仪器编号：12009181

国 别：法国

厂 商：HORIBA JOBIN YVON

型 号：UVISEL-2

价 格：121.1万元

规 格：测量精确性：d=D+/- 5 Å；SiO2薄膜厚度测量的标准偏差1δ优于0.2 Å

性能指标：

1. 光谱范围：190 ~ 2,100 nm

2. 光源：高稳定高功率氙灯

3. 探测系统：采用PMT探测UV-VIS波段和InGaAs探测NIR波段

4. 光斑尺寸（70°入射角）：最小尺寸不大于50 μm × 50 μm；8种光斑尺寸可选；光斑可视系统，可以清晰显示测量点光斑

5. XYZ自动三维样品台：XY范围：200 mm，Z范围：40 mm，自动聚焦，自动校准

6. 入射角：自动控制，从35° ~ 90°自动连续可调

主要应用：对各向异性材料、多层膜、多孔材料、高分子薄膜等特殊结构的材料的光学性能进行分析。测试样品的椭偏角，分析样品折射率、消光系数随入射光波长的变化，分析样品厚度。

仪器地点：吉林大学中心校区 无机-超分子楼B115

联系人：李老师 E-mail：xiangL21@jlu.edu.cn